原子力显微镜FM-Nanoview 1000AFM一、主要特点1.光机电一体化设计,外形结构简单;2.扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强;3.精密激光检测及探针定位装置,光斑调节简单,操作方便;4.采用精密探针定位模块,更换探针简单方便5.采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描;6.伺服马达手动或自动脉冲控制,驱动样品垂直接近探针,实现扫描区域精确定位;7.高精度大范围的样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域;8.高精度大范围的压电陶瓷扫描器,根据不同精度和扫描范围要求选择;9.带光学定位的CCD观察系统,实时观测与定位探针扫描样品区域10.模块化的电子控制系统设计,便于电路的持续改进与维护;11.集成多种扫描工作模式控制电路,配合软件系统使用。12.弹簧悬挂式防震方式,简单实用,抗干扰能力强 二、友好的软件界面及操作功能1. 可自由选择图像采样点为256×256或512×5122. 多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图3. 可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域4. 可任意选择样品起始扫描角度5. 激光光斑检测系统的实时调整功能6. 可任意定义扫描图像的色板功能7. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能8. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正9. 支持样品图片离线分析与处理功能 三、技术规格名 称参 数名 称参 数工作模式1. 接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力扫描角度任意样品尺寸Φ≤90mm;H≤20mm样品移动范围0~20mm*大扫描范围横向20um,纵向2um马达趋近脉冲宽度10±2m扫描分辨率横向0.2nm,纵向0.05nm光学放大倍数4X扫描速率0.6Hz~4.34Hz光学分辨率2.5um扫描控制XY采用18-bit D/AZ采用16-bit D/A图像采样点256×256,512×512数据采样14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样反馈方式DSP数字反馈计算机接口USB2.0反馈采样速率64.0KHz运行环境运行于WindowsXP/7/8操作系统
原子力显微镜FM-Nainoview 6800AFM一、功能特点1. 光机电一体化设计,外形结构简单;2. 扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强;3. 精密激光检测及探针定位装置,光斑调节简单,操作方便;4. 采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描;5. 伺服马达手动或自动脉冲控制,驱动样品垂直接近探针,实现扫描区域精确定位;6. 高精度大范围的样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域;7. 高精度大范围的压电陶瓷扫描器,根据不同精度和扫描范围要求选择;8. 采用伺服马达控制CCD对焦和光学放大;9. 模块化的电子控制系统设计,便于电路的持续改进与维护;10. 集成多种扫描工作模式控制电路,配合软件系统使用。二、友好的软件1. 可观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像2. 具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式3. 多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图4. 多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS(f-RMS)、RMS-间隙(RMS-Z)测量功能5. 可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域6. 激光光斑检测系统的实时调整功能7. 针尖共振峰自动和手动搜索功能8. 可任意定义扫描图像的色板功能9. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能10. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正11. 支持样品图片离线分析与处理功能三、技术规格名 称参 数名 称参 数工作模式接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力扫描角度任意样品尺寸Φ≤90mm,H≤20mm样品移动范围0~20mm*大扫描范围横向50um,纵向5um光学放大倍数10X扫描分辨率横向0.2nm,纵向0.05nm光学分辨率1um扫描速率0.6Hz~4.34Hz图像采样点256×256,512×512扫描控制XY采用18-bit D/AZ采用16-bit D/A反馈方式DSP数字反馈数据采样14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样反馈采样速率64.0KHz仪器重量体积40KG,700′480′450mm计算机接口USB2.0运行环境运行于WindowsXP/7/8操作系统
原子力显微镜(FM-Nanoview 6600AFM)一、功能特点1、光机电一体化设计,外形结构简单;2、扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强;3、精密激光检测及探针定位装置,光斑调节简单,操作方便;4、采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描;5、伺服马达手动或自动脉冲控制,驱动样品垂直接近探针,实现扫描区域精确定位;6、高精度大范围的样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域;7、高精度大范围的压电陶瓷扫描器,根据不同精度和扫描范围要求选择;8、自由变倍的CCD观测系统,实时观测与定位探针扫描样品区域;9、采用伺服马达控制CCD对焦和光学放大;10、模块化的电子控制系统设计,便于电路的持续改进与维护;11、集成多种扫描工作模式控制电路,配合软件系统使用。二、友好的软件界面及操作功能1、多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图;2、多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS(f-RMS)、RMS-间隙(RMS-Z)测量功能;3、可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域;4、可任意选择样品起始扫描角度;5、激光光斑检测系统的实时调整功能;6、针尖共振峰自动和手动搜索功能;7、可任意定义扫描图像的色板功能;8、支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能;9、支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正;三、技术规格名 称参 数名 称参 数工作模式轻敲模式、接触模式扫描角度任意样品尺寸Φ≤80mm;H≤20mm样品移动范围0~20mm*大扫描范围横向50um,纵向5um马达趋近脉冲宽度10±2m扫描分辨率横向0.2nm,纵向0.05nmCCD放大倍数光学放大0.6~5X电子放大40X扫描速率0.6Hz~4.34Hz图像采样点256×256,512×512扫描控制XY采用18-bit D/AZ采用16-bit D/A反馈方式DSP数字反馈数据采样14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样反馈采样速率64.0KHz仪器重量体积40KG,700′480′450mm计算机接口USB2.0运行环境运行于WindowsXP/7/8操作系统