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15J测量显微镜

15J测量显微镜

一、用途

15J测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下:

1.直角坐标中测定长度,例如测定孔距、基面距离、刻线距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、通孔外圆直径等等。

2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘、样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。

3.用作观察,以比较法检查工作表面粗糙度,鉴定冶金工业的矿石标本,检定印刷照相制版,检验纺织纤维等等。


二、技术规格

1.光学系统规格

物 镜目 镜显微镜
放大倍数
工作距离 (mm)视场直径(mm)
放大倍数焦距 (mm)放大倍数焦距 (mm)
2.5X/0.0843.4010X25.0025X58.845.6
10X/0.2517.13100X7.811.4

2.测量工作台读数装置主要规格

X轴移动测量范围:50mm

Y轴移动测量范围:13mm

测微器分度值:0.01mm

测量台转动范围:不限

测量台刻度盘分度范围:0°~360°

测量台刻度盘之分度值:1°

测量台刻度盘游读数示值:6′

3.测量精度:

仪器示值误差:±(4+L/15 )um

仪器示值误差:包括测量误差与仪器系统误差。

注:测量地点温度变化(20±3)℃

  L-被测件长度(mm)

4.仪器之主要尺寸:

测量台与物镜间之*大距离:80mm

测量工作台直径:120mm

三、仪器成套性

序 号名称单位数量
1主机1
2物镜2.5×1
3物镜10×1
4产品使用说明书1
5产品合格证明1
6产品保修卡1


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上海彼爱姆(BM)光学仪器制造有限公司是继于具有五十年光学仪器制造的企业上海光学仪器厂(上光)。在机制改革成熟和进入WTO适应国际市场开拓发展新概念的基础上,优化组建成BM公司。BM云集了有四十多年从事光学科技研制的老一辈工程技术人员,具有多年来与德、日、俄等国外同行合作开发研制的经验。有雄厚的技术力量,是老“上光”的深化和延续。具有现代科学管理体制的光、机、电、智能化综合型光学仪器制造的专业企业。
 
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